Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.
 
+7 (4912) 72-03-73
 
Интернет-портал РГРТУ: http://rsreu.ru

УДК 519.7

ЭНТРОПИЙНЫЙ КРИТЕРИЙ НА ОСНОВЕ МЕРЫ СИММЕТРИЧНОСТИ БИНАРНОЙ МАТРИЦЫ

Г. В. Петрухнова, к.т.н., доцент кафедры АВС ВГТУ, Воронеж, Россия; Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.

Целью работы является решение задачи оптимизации структуры бинарной матрицы. Показана актуальность использования структурной энтропии в задачах моделирования сложных систем различной природы. В основе концепции структурной энтропии лежит понятие симметрии. Симметрия отражает некоторую упорядоченность частей исследуемого объекта. Минимум меры симмет-
ричности объекта позволяет получить максимальное разнообразие его структурных элементов. Рассмотрена инвариантность структуры бинарной матрицы относительно перестановок выбранных структурных элементов. Минимальной единицей разбиения бинарной матрицы в построенной модели являлась ее строка. Рассматривались перестановки одинаковых строк между собой и одинаковых элементов внутри строки. На основе выполненной структуризации бинарной матрицы введена мера ее симметричности. Mера симметричности позволила синтезировать энтропийные критерии качества. Показана эффективность использования полученных результатов моделирования в теории и практике тестового контроля цифровых устройств. Рассматривалась модель цифрового устройства «черный ящик». На основе генератора псевдослучайных чисел строились тесты цифровых устройств, покрывающие одиночные неисправности типа «короткое замыкание» и «константная». Предполагалось, что неисправность типа «короткое замыкание» может возникнуть между любыми контрольными точками тестируемой цифровой схемы, неисправность типа «константная» – в любой контрольной точке. Анализ экспериментальных данных показал, что полученные энтропийные критерии позволили сократить длину тестов цифровых устройств.

Ключевые слова: энтропия, симметрия, бинарная матрица, мера симметричности объекта, цифровая схема, генератор псевдослучайных чисел, неисправность типа «короткое замыкание», неисправность типа «константная».

 Скачать статью