УДК 621.315.592
ИССЛЕДОВАНИЕ ЗАВИСИМОСТИ КОРРЕЛЯЦИОННЫХ СВОЙСТВ НАНОСТРУКТУРИРОВАННЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ ОТ ПАРАМЕТРОВ ИХ РЕЛЬЕФА
А. Е. Луняков, магистрант РГРТУ, Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.
Н. В. Рыбина, доцент каф. МНЭЛ, РГРТУ, Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.
Н. Б. Рыбин, доцент каф. МНЭЛ, РГРТУ, Этот адрес электронной почты защищён от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.
Цель работы – моделирование характерных поверхностей с квантовыми точками и исследование их информационно-корреляционных свойств с помощью методов двухмерного флуктуационного анализа с исключенным трендом (2D DFA) и средней взаимной информации (СВИ) для создания базы данных информационно-корреляционных параметров таких структур.
Были смоделированы поверхности, представляющие собой характерный рельеф структур с квантовыми точками. Варьировались амплитуда шумовой составляющей и степень латерального упорядочения массива квантовых точек. С помощью методов двухмерного флуктуационного анализа с исключенным трендом и средней взаимной информации исследованы корреляционные и информационные параметры модельных поверхностей, на основе чего создана база данных. Получены зависимости скейлингового показателя и информационных характеристик от степени зашумленности рельефа модельных поверхностей. Увеличение амплитуды зашумленности рельефа от 0 до 100 %
существенно влияло на скейлинговый показатель и среднюю взаимную информацию. Разупорядочение массива модельных квантовых точек приводило к уменьшению средней и максимальной взаимной информации.
Ключевые слова: наноструктуры, упорядоченность, квантовые точки, поверхность, самоорганизация, средняя взаимная информация, максимальная взаимная информация, двухмерный флуктуационный анализ с исключенным трендом, корреляционный вектор, скейлинговый показатель.